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器件类型:二极管
掺杂类型:p型(硼)
晶圆翘曲应力测量仪 Stress Mapper
全自动晶圆内应力检测仪 SVi
晶圆几何形貌测量系统(WT 系列)
优势
✔️ 基于双折射应力测量模型实现光学延迟和内应力分布二维测量
✔️ 包含多波长测量功能,光学延迟测量量程大
适用对象
大口径注塑光学件,石英玻璃件等
测量原理
基于偏振光应力双折射效应检测材料内部应力分布。
材料在成型过程中会由于工艺及环境条件形成不同的材料内部分布导致内应力;同时材料内部的缺陷也会导致应力集中。
内应力会导致应力双折射效应,偏振光透过材料时会发生偏振态调制,通过测量透射光的斯托克斯矢量推算出材料的应力延迟量,从而得到材料内应力分布。
SV系列技术规格
590nm LED光源, 620nm LED光源, 650nm LED光源, 可选配其它光源
型号: HUD挡风玻璃型面&楔角测量系统
型号: 晶圆翘曲应力测量仪(桌面式)
型号: 晶圆内应力检测仪 Strain Viewer
型号: 晶圆几何形貌测量系统(WT 系列)
苏州瑞霏光电科技有限公司
91320585MA1X1FRW9W
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