easyXAFS公司台式X射线吸收精细结构谱/发射谱仪，采用独有的X射线单色器设计，无需同步辐射光源，在常规实验室环境中即可实现X射线吸收精细结构测量和分析，以超高灵敏度和光源质量，实现对元素的测定、价态和配位结构分析等。此外，该设备还能够进行X射线发射谱测试（XES），该表征本质上是超高能量分辨率的X射线荧光光谱（high-resolution XRF）。XAFS和XES可以对样品的局部电子结构实现信息互补，广泛应用于电池、催化剂、环境、放射性化学、地质、陶瓷等研究领域。

主要技术参数

-  X射线源：

       XAFS： 2500 W

       XES： 100 W

-  能量范围：4.5 keV-25 keV

-  光通量：3M~4M photons/sec.

-  分辨率：0.5-1.5 eV

-  可测试元素种类：近70种